飛納電子顯微鏡利用電子束掃描樣品表面，通過檢測二次電子和背散射電子來生成高分辨率的三維圖像。SEM主要由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈、樣品室和探測器組成。電子槍發射電子束，經過聚焦和掃描線圈準確控制，投射到樣品表面。散射回來的電子被探測器接收并轉化為電信號，形成圖像。
結合了透射和掃描功能，它通過掃描電子束透過樣品，收集透過和散射的電子來成像，主要由電子槍、電磁透鏡、樣品架、掃描線圈、探測器和成像系統組成。電子槍發射電子束，經過聚焦和掃描線圈控制，投射到樣品上。透過和散射的電子被探測器接收并轉化為電信號，形成圖像。
廣泛應用于表面科學、材料科學和生物學等領域。在表面科學中，用于觀察材料的微觀形貌和分析表面特征。在材料科學中，它用于研究合金、陶瓷和復合材料的表面結構和損傷情況。在生物學中，用于觀察組織和細胞的表面形態，以及微生物和植物的結構。
飛納電子顯微鏡的主要類型：
透射電子顯微鏡通過電子束穿透超薄的樣品來獲得內部結構的高分辨圖像。典型的TEM由電子槍、電磁透鏡、樣品架、熒光屏和成像系統組成。電子槍發射電子束，電磁透鏡將其聚焦并投射到樣品上。透過樣品的電子束攜帶內部結構的信息，經過額外的電磁透鏡成像在熒光屏或數字探測器上。
TEM在材料科學、納米技術和生物學中有廣泛的應用。在材料科學中，它用于研究金屬、陶瓷和聚合物的微觀結構，幫助理解材料的機械性能和失效機制。在納米技術中，TEM用于觀察和表征納米粒子和納米器件。在生物學中，它用于觀察病毒、細菌和細胞的內部結構，特別是在研究細胞器如線粒體和內質網時具有重要價值。
